總有機(jī)碳（TOC）分析儀離線監(jiān)測系統(tǒng)不需要氮?dú)狻⒀鯕狻⑺嵩噭┘把趸瘎僮骱唵巍⑹褂贸杀镜停浑x線實驗室使用，滿足注射用水、純化水有機(jī)碳的測試及清潔驗證；

CPS高精度納米粒度分析儀是一臺穩(wěn)定高速、高分辨的納米顆粒測量儀器。該儀器適合測量 0.005 微米（也即 5 納米） 到 75um 微米范圍的粒度。

數(shù)據(jù)采集分析軟件采用全中文圖形用戶界面，方便用戶控制測試臺和記錄測量數(shù)據(jù)，支持手動或自動編譯其測試腳本程序。

F60薄膜厚度測量儀就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。 這些功能包括凹槽自動檢測、自動基準(zhǔn)確定、全封閉測量平臺、預(yù)裝軟件的工業(yè)計算機(jī)，以及升級到全自動化晶圓傳輸?shù)臋C(jī)型。

主動式防震系統(tǒng)一些靈敏度很高的儀器可能是一個自然諧振頻率的被動系統(tǒng)，可以用主動隔振系統(tǒng)消除共振。

薄膜厚度測量儀：以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。