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    當前位置:首頁產品中心熱銷產品光學顯微鏡HEM6000高速掃描電子顯微鏡

    高速掃描電子顯微鏡
    產品簡介:

    高速掃描電子顯微鏡采用高亮度大束流電子槍、高速電子偏轉系統、高壓樣品臺減速、動態光軸、浸沒式電磁復合物鏡等技術,實現了超快的數據采集和成像速度,同時保證了納米級分辨率。

    產品型號:HEM6000

    更新時間:2024-11-19

    廠商性質:代理商

    訪問量:1629

    服務熱線

    4006981718

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    產品介紹

    HEM6000是一款可實現跨尺度大規模樣品成像的高速掃描電子顯微鏡
    采用高亮度大束流電子槍、高速電子偏轉系統、高壓樣品臺減速、動態光軸、浸沒式電磁復合物鏡等技術,實現了超快的數據采集和成像速度,同時保證了納米級分辨率。
    高速掃描電子顯微鏡面向應用場景的自動化操作流程設計,使得大面積的高分辨率圖像采集工作更高效、更智能。成像速度可達常規場發射掃描電鏡的5倍以上。

    圖像采集速度
    10 ns/pixel,2*100 M pixel/s
    加速電壓
    100 V~6 kV(減速模式) ; 6 kV~30 kV(非減速模式)
    分辨率
    1.3 nm@3 kV,SE ; 2.2 nm@1 kV,SE
    視場大小
    最大視場1*1 mm2,高分辨微畸變視場32*32 um2
    樣品臺精度
    重復定位精度:X ±0.6 um;Y ±0.3 um
    高速掃描驅動器

    駐點時間10 ns/pixel,

    最快采集速度2*100 M pixel/s

    電子過濾系統

    SE/BSE信號自由切換,

    MIX成像信號比例可調

    全靜電高速偏轉系統

    可實現高分辨大場模式,

    4 nm像素點最大視場達32*32 um2

    樣品臺減速技術

    降低入射電子落點電壓,

    同時提高回收電子的收集效率

    浸沒式電磁復合物鏡

    物鏡磁場浸沒樣品

    實現了低像差高分辨率

    產品優勢
    高速自動化
    全自動上下樣流程和采圖作業,綜合成像速度優于常規場發射掃描電鏡的 5 倍
    大場低畸變
    跟隨掃描場動態變化的光軸,實現了更低的場邊緣畸變
    低壓高分辨
    樣品臺減速技術,實現低落點電壓,同時保證高分辨率
    應用領域
    半導體工業
    生命科學
    材料科學
    地質科學
    應用案例
    芯片(金屬層)/ 116x / BSE / 120 ns
    芯片(器件層) / 2000x / BSE / 40 ns
    芯片(金屬層)/ 1200x / BSE / 120 ns
    芯片(器件層) / 1200x / BSE / 120 ns
    生物切片 / 9500x / BSE / 120 ns
    生物切片 / 10000x / BSE / 120 ns
    生物切片 / 10000x / BSE / 120 ns
    生物切片 / 116x / BSE / 120 ns
    指標HEM6000常規場發射掃描電鏡
    像素尺寸(單張)8192*8192
    像素點時間120 ns(點/行/幀平均數:6/2/1)800 ns
    像素大小16 nm
    拍攝總面積2 mm2

    拍攝總時間

    25分32秒>140分
    產品參數
    關鍵參數分辨率1.3nm @ 3 kV,SE;1.9nm @ 3 kV,BSE;
    2.2 nm @ 1 kV,SE;3.3 nm @ 1 kV,BSE;
    加速電壓100 V~6 kV(減速模式)
    6 kV~30 kV(非減速模式)
    放大倍率66~1,000,000x
    電子槍類型高亮度肖特基場發射電子槍
    物鏡類型浸沒式電磁復合物鏡
    樣品裝載系統真空系統全自動控制,無油真空系統
    樣品監控樣品倉監控水平攝像頭 ; 換樣倉監控垂直攝像頭
    樣品最大尺寸直徑4英寸
    樣品臺類型電機驅動3軸樣品臺(*可選配壓電驅動樣品臺)
    行程

    X、Y軸:110mm;

    Z軸:28mm;

    重復定位精度

    X軸:±0.6μm;

    Y軸:±0.3μm;

    換樣方式全自動控制
    換樣時間<15 min
    換樣倉清洗全自動控制等離子清洗系統
    圖像采集與處理駐點時間10 ns/pixel
    圖像采集速度2*100 M pixel/s
    圖像大小8K*8K
    探測器和擴展標配鏡筒內混合電子探測器
    選配低角度背散射電子探測器
    鏡筒內高角度背散射電子探測器
    壓電驅動樣品臺
    高分辨大場模式
    樣品倉等離子清洗系統
    6英寸樣品裝載系統
    主動減震臺
    AI降噪;大圖拼接;三維重構
    軟件語言中文
    操作系統Windows
    導航光學導航、手勢快捷導航
    自動功能自動樣品識別、自動選區拍攝、自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散


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