F54-XY-200薄膜厚度測量儀：借助F54-XY-200光譜反射系統，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創建自己編輯的測量點數量。

留言框

• 產品：

• 您的單位：

• 您的姓名：

• 聯系電話：

• 常用郵箱：

• 省份：

  請選擇您所在的省份 安徽 北京 福建 甘肅 廣東 廣西 貴州 海南 河北 河南 黑龍江 湖北 湖南 吉林 江蘇 江西 遼寧 內蒙古 寧夏 青海 山東 山西 陜西 上海 四川 天津 新疆 西藏 云南 浙江 重慶 香港 澳門 中國臺灣 國外

• 詳細地址：

• 補充說明：

• 驗證碼：

  

  請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7